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上海IPB2010國際粉體展9月展開 德國新帕泰克將參展
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德國新帕泰克公司展位號1118,9月27日將攜最新R系列干法激光粒度儀HELOS/RODOS(測試范圍0.1-3500μm)、動(dòng)態(tài)粒度粒形分析儀QICPIC(測試范圍1-20000μm)、納米激光粒度儀NANOPHOX(測試范圍1-10000nm)、超聲衰減粒度儀OPUS(0.01-3000μm)參展上海IPB2010國際粉體展,并有中國工程師在現(xiàn)場為您做專業(yè)的介紹與解答。
德國新帕泰克專利的干法粒度儀HELOS/RODOS,以其“干樣干測”、“瞬時(shí)分散,瞬時(shí)測量”的優(yōu)勢,廣泛以用于粉體行業(yè)的粒度分析與測量,具有分散效果好、測試速度快、準(zhǔn)確性與精度高等優(yōu)點(diǎn)。
動(dòng)態(tài)粒度粒形儀QICPIC在分析粒度分布信息的基礎(chǔ)上,提供粒形信息,為以顆粒形態(tài)為表征的行業(yè)與分析研究院提供了包括球形度、長寬比、纖維長度等更多參數(shù)的信息。
納米粒度儀NANOPHOX使用PCCS的原理,消除多重散射的影響,測試濃度高,準(zhǔn)確性好,同時(shí)提供穩(wěn)定性分析,是分析納米粉體的最佳選擇。
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